介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

二、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀技術(shù)指標(biāo)
  1．Q值測(cè)量
 a．Q值測(cè)量范圍：2～1023。
 b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
c．標(biāo)稱誤差
頻率范圍：20kHz～10MHz；
        固有誤差：≤5％±滿度值的2％；
                工作誤差：≤7％±滿度值的2％；
                        頻率范圍：10MHz～60MHz；
                                固有誤差：≤6％±滿度值的2％；
                                        工作誤差：≤8％±滿度值的2％。
2．電感測(cè)量范圍：14.5nH~8.14H
3．電容測(cè)量：1~ 460
 直接測(cè)量范圍：1～460pF
主電容調(diào)節(jié)范圍：準(zhǔn)確度30～500pF；150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％

   注：大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見使用規(guī)則
   4．介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀信號(hào)源頻率覆蓋范圍

頻率范圍：10kHz～50MHz
頻率分段：（虛擬）10～99.9999kHz；100～999.999kHz；1～9.99999MHz；10～60MHz     

頻率指示誤差：3×10-5±1個(gè)字
5．Q合格指示預(yù)置功能

 預(yù)置范圍：5～1000。

介電常介質(zhì)損耗測(cè)試儀操作步驟：

介電常數(shù)Σ的測(cè)試
a. 再松開二極片，把被測(cè)樣品插入二極片之間，調(diào)節(jié)平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時(shí)    要用測(cè)微桿，以免夾得過緊或過松），這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值，既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調(diào)電容容量，使Q 表處于諧振點(diǎn)上。
b. 取出平板電容器中的樣品，這時(shí)Q 表又失諧，此時(shí)調(diào)節(jié)平板電容器，使Q 表再回到諧振點(diǎn)上，讀取測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
c. 計(jì)算被測(cè)樣品的介電常數(shù)：
                         Σ＝D2 / D4
5．介質(zhì)損耗系數(shù)的測(cè)試
a. 重新把測(cè)試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端上。把被測(cè)樣品插入二極片之間，改變Q 表上的主調(diào)電容容量，使Q 表處于諧振點(diǎn)上，讀得Q 值，記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。
b. 取出平板電容器中的樣品，這時(shí)Q 表又失諧，再改變Q 表上的主調(diào)電容容量，使Q 表重新處于諧振點(diǎn)上。讀得Q 值，記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。
c. 然后取下測(cè)試裝置，再改變Q 表上的主調(diào)電容容量，重新使之諧振，電容讀數(shù)記為C3，此時(shí)可計(jì)算得到測(cè)試裝置的電容為CZ = C3 －C1
d. 計(jì)算被測(cè)樣品的介質(zhì)損耗系數(shù)

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式中：CZ 為測(cè)試裝置的電容（平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2）
C0 為測(cè)試電感的分布電容（參考LKI-1 電感組的分布電容值）