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薄膜介質損耗因數(shù)測試儀

型　號GDAT-A

更新時間2024-11-24

廠商性質生產(chǎn)廠家

報價

產(chǎn)品描述：薄膜介質損耗因數(shù)測試儀要配置:
a.測試主機一臺;
b.電感9只;
c.夾具一套

在線詢價聯(lián)系我們

薄膜介質損耗因數(shù)測試儀

☆Q值測量:

a.Q值測量范圍:2~1023。 b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。c.標稱誤差

頻率范圍:20kHz~10MHz; 固有誤差:≤5%±滿度值的2%;工作誤差:≤7%±滿度值的2%;

頻率范圍:10MHz~60MHz; 固有誤差:≤6%±滿度值的2%;工作誤差:≤8%±滿度值的2%。

☆電感測量:

a.測量范圍:14.5nH~8.14H。

b.分檔:分七個量程。

0.1~1μH, 1~10μH, 10~100μH,

0.1~lmH, 1~10mH, 10~100mH, 100 mH~1H。

☆電容測量:

a.測量范圍:1~460pF(460pF以上的電容測量見使用規(guī)則);

b.電容量調節(jié)范圍

主調電容器:30~500pF; 準確度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%;

注:大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則

☆振蕩頻率:

a.振蕩頻率范圍:10kHz~50MHz;

b.頻率分段(虛擬)

10~99.9999kHz

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

10~60MHz

c.頻率誤差:3×10-5±1個字。

薄膜介質損耗因數(shù)測試儀

信號源范圍DDS數(shù)字合成信號	100KHZ-160MHz
信號源頻率覆蓋比	16000:1
信號源頻率精度 6位有效數(shù)	3×10-5 ±1個字
采樣精度	12BIT 高精度的AD采樣，保證了Q值的穩(wěn)定性，以及低介質損耗材料測試時候的穩(wěn)定性
Q測量范圍	1-1000自動/手動量程
Q分辨率	4位有效數(shù),分辨率0.1
Q測量工作誤差	<5%
電感測量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH	1nH-140mH分辨率0.1nH
電感測量誤差	<3%
調諧電容	主電容17-240pF (一體鍍銀成型,精度高)
電容自動搜索	是(帶步進馬達)
電容直接測量范圍	1pF～25nF
調諧電容誤差分辨率	±1 pF或<1% 0.1pF
諧振點搜索	自動掃描
Q合格預置范圍	5-1000聲光提示
Q量程切換	自動/手動
LCD顯示參數(shù)	F，L，C，Q，Lt，Ct, tn, Σr
自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能	有
大電容值直接測量顯示功能	測量值可達25nF
介質損耗系數(shù)	精度萬分之一
介電常數(shù)	精度千分之一
材料測試厚度	0.1mm-10mm
介電常數(shù)	LCD直接顯示
介質損耗系數(shù)	LCD直接顯示